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Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE

Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE FilmTek™ 6000標準桿數-SE先進的多模薄膜計量系統在1x nm設計節點和更高的位置為廣泛的薄膜層提供生產驗證的薄膜厚度、折射率和應力測量監測。該系統能夠在新一代集成電路的生產過程中實現更嚴格的過程控制，提高器件產量，并支持下一代節點技術的開發。

更新日期：2024-12-02訪問量：2760廠商性質：代理商
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Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP

Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP ——緊湊型高性能剖面儀和AFM

更新日期：2024-12-02訪問量：2769廠商性質：代理商
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Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP

bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP ——第五代AFP具有業界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射

更新日期：2024-12-02訪問量：3796廠商性質：代理商
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Bruker布魯克 XRD JV-QCVelox X射線衍射儀

Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD$n$n——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產專用高分辨率 X 射線衍射系統

更新日期：2025-01-15訪問量：7671廠商性質：代理商
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Bruker XRD 布魯克 JV-DX X射線衍射儀

Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD$n$n——X射線測量滿足您的研發需求$n$nJordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發和質量控制的新一代柔性 X 射線衍射儀器。該系統具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝，可以在*計算機/配方控制下在標準和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換，而無需手動更改配置。

更新日期：2025-01-15訪問量：5176廠商性質：代理商
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